detect defect перевод

• обнаруживать дефект

• detect:    1) открывать, находить, обнаруживать Ex: to detect the murderer найти убийцу Ex: to detect smb. in the act поймать кого-л. с поличным, застать кого-л. на месте преступления2) расследовать (преступле
• defect:    1) дефект, недостаток; порок, изъян; неисправность; несовершенность Ex: incurable defect неустранимый дефект Ex: physical defect физический недостаток, уродство Ex: birth defect _спец. дефект изгото
• carrier detect:    обнаружение несущей интерфейсный сигнал, используемый модемом для того,чтобы показать подключенному к локальному модему терминальномуустройству получение сигнала от удаленного модема
• detect a target:    обнаруживать цель
• detect fault:    выявлять повреждение
• detect leak:    обнаруживать течь
• detect scratch:    выявлять царапину
• detect target:    онаруживать цель
• detect an error:    корректировать ошибку
• hard-to-detect fault:    труднообнаруживаемая неисправность
• модуль:namespace detect:    Namespace detect
• absorbing defect:    крист. поглощающий дефект
• accepted defect:    пропущенный при приемке дефект
• adhesion defect:    адгезионный дефект
• angular defect:    мат. угловой дефект (треугольника)

• The majority of these methods are good to detect defects in one of the hemostasis components, without diagnosing other possible defects.
  Большинство методов подходит для детектирования нарушений в каком-либо одном звене гемостаза, не диагностируя при этом другие возможные нарушения.
• Ideal to analyse yarn structures, detect defects, reduce warp and weft density of fabrics to a cm or an inch, and to analyse mechanical parts.
  Идеальна для анализа структуры пряжи, обнаружения дефектов, перевода плотности тканей по основе и утку тканей в сантиметры или дюймы анализа механических частей.
• She patented an optical system to detect defects in a repeating pattern and is a co-inventor on three patents for an optical inspection system, an optical object recognition method and a method for noise removal in images.
  Она является соавтором в трех патентах по оптической системе контроля, оптическому методу распознавания объектов, а также методу по удалению шума на снимках.